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FISCHERSCOPEB XAN310材料分析及鍍層測(cè)厚儀 FISCHERSCOPE X-RAY XAN 310是一款X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀，特別適用于基本鍍層厚度及合金成分的無(wú)損分析。XAN310可以快速分析成分并用克拉顯示測(cè)量值，重量%或%o,其他合金成分也會(huì)同時(shí)得出。

Fischer XDLM 231鍍層測(cè)厚儀 它們特別適合于無(wú)損厚度測(cè)量和薄涂層分析以及批量生產(chǎn)的零件和印制板上的自動(dòng)測(cè)量。有三個(gè)型號(hào)：XDLM 231具有平面支撐臺(tái)，XDLM 232具有手動(dòng)操作的X / Y臺(tái)。 XDLM 237配備了一個(gè)電動(dòng)X / Y平臺(tái)，當(dāng)打開(kāi)防護(hù)罩時(shí)，該平臺(tái)會(huì)自動(dòng)移到裝載位置。