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小型臺式化學(xué)鎳鍍層測試儀Couloscope小型臺式化學(xué)鎳鍍層測試儀Couloscope 庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。 這個方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。 CMS2可以測量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結(jié)構(gòu)
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菲希爾mpo測厚儀菲希爾mpo —在鐵磁性及非鐵磁性金屬上簡便高精度測量涂鍍層厚度的理想選擇。 DualScope MP0儀器內(nèi)置探頭，采用磁感應(yīng)及電渦流方法，可以輕松、快速,無損地測量涂層厚度。
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