泰勒粗糙度儀 DUO—— 工業(yè)測量的精密之選
在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)中，產(chǎn)品表面質(zhì)量已成為衡量制造精度的核心指標(biāo)。英國泰勒霍普森推出的粗糙度儀 DUO，以其前沿技術(shù)與創(chuàng)新設(shè)計(jì)，成為機(jī)械加工、航空航天等領(lǐng)域的表面粗糙度測量桿設(shè)備，為高精度制造提供了可靠的量化依據(jù)。
一、測量原理：從機(jī)械觸感到數(shù)字解析的精密鏈路
DUO 采用接觸式測量原理，核心由耐磨金剛石測針與高精度驅(qū)動裝置構(gòu)成。測針在驅(qū)動裝置 0.01mm/s 級的恒速控制下沿被測表面移動，其垂直位移通過壓電傳感器轉(zhuǎn)化為電信號（靈敏度達(dá) 0.1nm/μV）。信號經(jīng) 16 位 ADC 模數(shù)轉(zhuǎn)換后，由內(nèi)置微處理器按 ISO 4287、ANSI B46.1 等國際標(biāo)準(zhǔn)算法實(shí)時(shí)計(jì)算，可同步輸出 Ra（輪廓算術(shù)平均偏差）、Rz（十點(diǎn)高度）、Rt（最大高度）等 10 余項(xiàng)參數(shù)。這種 “機(jī)械傳感 - 電信號轉(zhuǎn)換 - 數(shù)字運(yùn)算" 的閉環(huán)系統(tǒng)，確保了 0.01μm 級的測量分辨率與 ±10% 的重復(fù)性精度。
二、產(chǎn)品特性：工業(yè)場景下的效能革命
一鍵多參量測量
通過集成化算法優(yōu)化，DUO 實(shí)現(xiàn)單鍵觸發(fā)后 1.5 秒內(nèi)完成全參數(shù)計(jì)算，2.4 英寸工業(yè)級 LCD 彩屏支持參數(shù)列表與輪廓圖形雙模式顯示，背光亮度可自動適應(yīng) 0-5000lux 的環(huán)境光強(qiáng)。
分體式模塊化設(shè)計(jì)
顯示控制單元與驅(qū)動單元通過磁吸式滑軌分離，可實(shí)現(xiàn)最大 50cm 的空間拓展，特別適用于深孔（≥300mm）、凹槽等復(fù)雜結(jié)構(gòu)測量，配合專用延長桿可完成盲孔底部粗糙度檢測。
無線互聯(lián)與長效續(xù)航
藍(lán)牙 5.1 模塊支持 10 米范圍內(nèi)多設(shè)備數(shù)據(jù)同步，兼容 iOS/Android 設(shè)備的 Taylor Hobson Connect 軟件，可實(shí)時(shí)生成 SPC 統(tǒng)計(jì)圖表；內(nèi)置 2000mAh 鋰聚合物電池支持連續(xù) 4 小時(shí)工作，USB-C 快充 30 分鐘即可恢復(fù) 60% 電量。
