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泰勒霍普森 Surtronic S-116 粗糙度儀工業(yè)助手信息
點擊次數(shù)：31 更新時間：2025-06-13 打印本頁面 返回
高精度測量：Surtronic S-116 粗糙度儀能夠提供極其精確的測量結果，粗糙度標準（Ra）測量精度可達 ±(2% + 0.004μm) ，工件或者元件表面（Ra）一次測量值精度為 ±3% 。這一高精度特性，使其能夠滿足對表面質(zhì)量要求高的行業(yè)，如精密軸承制造、航空航天零部件加工等，確保產(chǎn)品質(zhì)量符合嚴格的標準和規(guī)范。
豐富的測量參數(shù)：該儀器可測量多個粗糙度參數(shù)，包括 Ra（算術平均粗糙度）、Rv（輪廓最大谷深）、Rp（輪廓最大峰高）、Rz（十點高度粗糙度）、Rt（輪廓總高度）、Rq（均方根粗糙度）、Rsk（偏斜度）、Rmr（材料比）等 。在不同標準下，如 ISO、ASME、JIS 等，可測量的參數(shù)數(shù)量有所不同，最多可達 14 個參數(shù)，全面反映表面粗糙度特征，為用戶提供詳細、全面的表面質(zhì)量信息。
廣泛的測量范圍：測量范圍涵蓋 200μm / 100μm / 10μm，分辨率可達 100nm / 20nm / 10nm ，能適應從粗糙表面到超精密表面的各種測量需求。無論是大型機械零部件的粗糙加工表面，還是光學鏡片、電子芯片等超精密元件的光滑表面，Surtronic S-116 都能準確測量。
