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進口Fischer測厚儀標準
點擊次數(shù)：1982 更新時間：2017-01-12 打印本頁面 返回
涂層測厚儀在測量物體時,除測量方法外,還會有其他因數(shù)會導致測量結(jié)果有所偏差,具體影響因數(shù)請看下表.
測量方式法 | 磁性測量 | 渦流測量 |
基體金屬磁性質(zhì) | * |
|
基體金屬電性質(zhì) |
| * |
邊緣效應 | * | * |
曲率 | * | * |
試件粗糙度 | * | * |
磁場 | * |
|
附著物質(zhì) | * | * |
測頭壓力 | * | * |
測頭取向 | * | * |
基體金屬厚度 | * | * |
試件的形狀 | * | * |
涂層測儀除了可以測量磁性金屬基體和非磁性基體上的涂層,亦可以測量金屬電鍍的鍍層測厚儀,因此,涂層測厚儀,通常也稱為涂鍍層測厚儀.
磁性涂層測厚技術(shù)標準和檢定規(guī)程
標準：
標準GB/T4956-2003《磁性基體上非磁性覆蓋層厚度測量磁性法》
標準ISO 2178-1982
檢定規(guī)程：
JJG818-2005 《磁性、電渦流式覆層厚度測量儀》
